天线效应的产生粗略的讲就是金属表面积累的电荷过多，但又无法形成对地的放电通路，结果很有可能是对栅氧造成破坏。由于现代工艺尺寸越来越先进，沟道长度越来越小，antena的问题就越来越受重视。通常，我们通过金属跳线或者在poly-gate旁边放置足够面积的diode可以避免天线效应的发生。但是金属该往上跳还是往下跳呢？
我们都知道做mask的时候是从低层往高层做的。每一道工序都有诸如平坦化，隔离等，之后肯定会有静电泄放的操作。从这个角度来说，假如metal3过大有antena的问题，我们用metal4对其跳线。在做metal3的mask时，metal3实际上分开的，只有做到metal4的时候他们才会连起来，而到metal4时，metal3的表面电荷已经由于工艺过程减少很多了；而如果用metal2对其跳线，在做metal3时，metal2和metal3是会相连的，并没有起到减少电荷的作用。
栅氧漏电，尽管对功耗不利，但对天线效应是有利的。栅氧漏电可以防止电荷积累达到击穿。所以，实际上可以看到薄的栅氧较厚栅氧不易发生损坏，因为当栅氧变薄，漏电是指数上升的，而击穿电压是线性下降的。
常用的三个避免天线效应的方法
- 跳线，而且最好是往上跳线
- 增加对地反向偏置diode，
- 在信号线上加一组buffer，这个方法既可以规避antena，也可以为信号增加驱动能力
一般来说command file会定义检查是否antena metal连到gate-poly上，还有是否面积过大。解决方法我建议是在靠近gate-poly的地方断开metal用高层metal跳一下，当然这在drc中可能不太好查，所以drc一般规定在发生antena的metal上有一个N-diode，越靠近transistor越好。
